更新時間:2023-08-18
IR系列光學傳遞函數測試儀應用于可見光、紅外、(單)雙無限(無焦)、有限系統的測量和評價。除光學傳遞函數外,它還可以提供焦距、單項像差、視場等參數的測量。傳函測試儀目前被廣泛應用于光學鏡頭、像增強器、CCD攝像機、紅外成像系統等其它成像系統的像質評價和相關參數測量,可以將測量結果以數據的方式顯示和記錄,更便于進行處理和對比。
IR系列光學傳遞函數測試儀
介紹
1)功能
測試光學系統、鏡頭、器件的調制傳遞函數MTF、相位傳遞函數PTF、焦距EFL、截距FFL、*佳焦面、畸變、場曲、色差、像散、相對透過率等。
2)MTF測試范圍
UVB  | Ultra-Violet B  | 193 - 360 nm  | 
NUV  | Near Ultra-Violet  | 325 - 500 nm  | 
VIS  | Visible  | 400 - 700 nm  | 
NIR  | Near Infra-Red  | 700 - 1000 nm  | 
SWIR  | Short-Wave Infra-Red  | 1 - 3 um  | 
MWIR  | Medium-Wave Infra-Red  | 3 - 5 um  | 
LWIR  | Long-Wave Infra-Red  | 8 - 12 um  | 
3)技術規格
光譜范圍  | 350nm-1000nm,1-3um,3-5um,8-12um  | 
大離軸角度  | ±90°  | 
焦距范圍  | 3-1000mm  | 
可測物鏡口徑  | 5-200mm  | 
空間頻率范圍  | 0-1600lp/nm(350nm-1000nm);0-100 lp/nm(1-3um); 0-60 lp/nm(3-5um,8-12um)  | 
MTF測量精度  | ±5’  | 
MTF測量重復性  | ±0.01  | 
焦距測量精度  | 優于±0.5%  | 
畸變測量精度  | 優于±0.5%  | 
場曲測量精度:  | 優于±5um  | 
色散測量精度  | 優于±0.002dpt  | 
測查測量精  | 優于±5um  | 
IR系列光學傳遞函數測試儀
統組成
反射式準直鏡,光束折疊鏡、擺臂,紅外探測器(1-3umPbS,3-5um8-12umMCT),紅外光源,紅外濾光片,紅外目標(狹縫),像分析器調焦、視場、垂直移動平臺,信號斬波器,信號處理器,平臺控制器,計算機及軟件。
